XRF分析儀的智能功能將讓您的鍍層質(zhì)量控制更加高效

發(fā)布時間：2024-07-13

FT230 XRF鍍層分析儀專用于滿足鍍層行業(yè)的特殊需求。FT230通過整合全新的軟件界面、用戶體驗(yàn)功能以及高端分析組件，可以更簡便地測試更多數(shù)量的樣品，從而使操作員有時間在測量XRF的同時，執(zhí)行其他工作。FT230配備四種新的關(guān)鍵功能，可助力更快完成鍍層分析：

Find My Part™（查找我的樣品）——簡單的自動化程序

XRF的機(jī)器視覺功能將操作員設(shè)置XRF測量所需的所有步驟（查找測量位置、選擇校準(zhǔn)曲線、選擇準(zhǔn)直器和報告測量結(jié)果）整合為一個簡單的自動化程序。操作員將零件裝入儀器，點(diǎn)擊“Find My Part™（查找我的樣品）”按鈕，儀器加載指定的完整分析程序。

操作員只需確認(rèn)已識別到的零件，其余工作全部交由FT230處理，其中包括將測量結(jié)果發(fā)送至正確位置或者為客戶創(chuàng)建完整報告。使得操作員空出時間操作實(shí)驗(yàn)室的其他儀器，或者返回生產(chǎn)流程。Find My Part™（查找我的樣品）可為操作員節(jié)省72%（有時甚至更多）設(shè)置復(fù)雜測量所需的時間，并且更有助于實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)一次性成功。

除機(jī)器視覺功能外，F(xiàn)ind My Part™（查找我的樣品）還可通過文本搜索或掃描樣品單上的二維碼或條形碼，輕松加載測量程序。對于無需Find My Part™（查找我的樣品）功能的簡單樣品設(shè)置，F(xiàn)T230還具有其他功能，通過提高測試容量和操作便利性以方便操作員的工作。

廣域相機(jī)——簡化零件設(shè)置

測量大型樣品上的多個位置時，操作員通常需要通過標(biāo)準(zhǔn)窄域相機(jī)圖像，搜索每個位置。窄域相機(jī)利于對樣品最終定位進(jìn)行細(xì)微調(diào)節(jié)；鑒于XRF鍍層分析儀的X射線光束尺寸較小，視圖只能僅向操作員顯示零件的有限部分。

將樣品放入儀器中時，XRF鍍層分析儀更易于定位第一個測量位置（例如，借助樣品臺彈出時的預(yù)定位激光器或顯示X射線束位置的激光器），但操作員在定位第一個位置后，就只能依靠自行查找。這會導(dǎo)致操作員在搜索剩余的點(diǎn)時停頓和浪費(fèi)時間。

FT230可以安裝第二臺相機(jī)，以查看樣品室的更大范圍，從而簡化零件設(shè)置。如需使用廣域相機(jī)，操作員可將樣品放入樣品室，然后點(diǎn)擊軟件中的按鈕。XRF將在數(shù)秒鐘內(nèi)采集到樣品臺行程區(qū)域內(nèi)的視圖，并將該圖像顯示在窄域圖像旁邊。

操作員可以放大廣域圖像中的特定測點(diǎn)，讀取組件標(biāo)簽并查看更多細(xì)節(jié)，確保其選擇正確的區(qū)域。操作員點(diǎn)擊廣域圖像中顯示的所需特定測點(diǎn)，將該點(diǎn)移動到分析位置。之后，操作員可以使用窄域圖像進(jìn)行所需的最終調(diào)整。

使用廣域相機(jī)的好處

通過簡單的實(shí)驗(yàn)說明使用廣域相機(jī)的好處。創(chuàng)建一個自動化多點(diǎn)測量程序來測量尺寸為5.75英寸×9.5英寸的電路板。將該程序設(shè)置為測量5個點(diǎn)——在電路板的每個角各取一個點(diǎn)，中間取一個點(diǎn)。

由同一位受過培訓(xùn)的操作員以兩種方式進(jìn)行實(shí)驗(yàn)：一種是僅使用窄域相機(jī)，一種是使用廣域相機(jī)。由于兩種情況下的測量時間相同，因此只考慮設(shè)置程序的時間。實(shí)驗(yàn)結(jié)果見下文。

僅使用窄域相機(jī)創(chuàng)建5點(diǎn)程序的時間：73秒

使用廣域相機(jī)創(chuàng)建5點(diǎn)程序的時間：59秒

節(jié)省時間：14秒（節(jié)省20%）

實(shí)驗(yàn)結(jié)果

初看起來，使用廣域相機(jī)所節(jié)省的時間不多，但在大批量生產(chǎn)廠中，像這樣每天測試至少50塊電路板是很常見的情況。一天合計能節(jié)省12分鐘以上，操作員可以用這些時間做出自由安排以便執(zhí)行其他工作。

在200天期間，使用廣域相機(jī)可以為XRF操作員創(chuàng)造超過40小時或1個工作周的額外生產(chǎn)力。

廣域相機(jī)可結(jié)合自動對焦或自動接近等其他功能使用，以節(jié)省更多的時間來準(zhǔn)備樣品，用于測量。

自動接近——提高分析結(jié)果的置信度

為使用XRF鍍層分析儀獲得一致結(jié)果，最好在每次測量時保持X射線管、零件和檢測器之間的距離相同。由于X射線強(qiáng)度與距離成函數(shù)關(guān)系，而且X射線管-零件-檢測器之間的幾何位置的變化會影響厚度測量。XRF鍍層分析儀通常使用兩種方法中的其中一種來保持關(guān)鍵幾何位置不變（激光對焦或評估圖像對比度的視頻對焦）。

分析頭（包含X射線管和檢測器）上下移動，直至儀器對焦程序完成，在某些情況下，還需要操作員進(jìn)行最終微調(diào)調(diào)整。執(zhí)行初始化、移動和最終確定操作需要花費(fèi)時間。如果需要操作員做出決定，也可能會引入誤判。

FT230可以配備名為“自動接近”的功能，只需點(diǎn)擊一下即可將分析頭移到正確位置。儀器內(nèi)部的傳感器可測量與樣品之間的距離。“自動接近”功能激活時，儀器將測得距離與校準(zhǔn)曲線中選擇的工作距離（也稱為“焦距”）進(jìn)行比較，將分析頭移到適當(dāng)位置。由此可以讓操作員獲得置信度更高的結(jié)果：無需花費(fèi)過多時間就能獲得較準(zhǔn)確結(jié)果，對焦零件樣品時不會出錯。

自動接近的好處

通過簡單的實(shí)驗(yàn)說明自動接近的好處。將六個高度范圍為4.8 - 6.6英寸（1.9 - 2.6 cm）的零件裝入樣品室。操作員創(chuàng)建多點(diǎn)程序來測量每個零件上的一個位置。

由同一位受過培訓(xùn)的操作員以兩種方式進(jìn)行實(shí)驗(yàn)：一種是使用激光對焦（移動分析頭，操作員判斷對焦），另一種是使用自動接近（分析頭自動移到正確的焦距，無需操作員干預(yù)）。由于兩種情況下的測量時間相同，因此只考慮設(shè)置程序的時間。實(shí)驗(yàn)結(jié)果見下文。

僅使用激光對焦創(chuàng)建6點(diǎn)程序的時間：44秒

使用自動接近創(chuàng)建6點(diǎn)程序的時間：29秒

節(jié)省時間：15秒（節(jié)省33%）

實(shí)驗(yàn)結(jié)果

看起來使用自動接近功能所節(jié)省的時間不多，但在每天重復(fù)50次運(yùn)行該功能的常見情況下，操作員可以節(jié)省12分鐘，可用這些時間來執(zhí)行其他工作。

在200天期間，使用自動接近可以為XRF操作員創(chuàng)造近40小時或近1個工作周的額外生產(chǎn)力。

自動接近可結(jié)合廣域相機(jī)等其他功能使用，以節(jié)省額外的時間來準(zhǔn)備樣品，用于測量。

自動對焦——測試數(shù)量更多的樣品

定位待測零件后，按下啟動按鈕前的最后一步是對焦零件。通常通過激光對焦或使用評估圖像對比度的視頻對焦。

使用任意一種方法時，分析頭（包含X射線管和檢測器）均會上下移動，直至儀器對焦程序完成，在某些情況下，需要操作員進(jìn)行最終微調(diào)調(diào)整。初始化、移動和最終確定操作需要花費(fèi)時間，如果操作員需要做出決定，也可能會引入誤判。

FT230可配備自動對焦功能，無需操作員參與，也無需移動分析頭。激活時，相機(jī)自動將樣品對焦在十字線下。

本程序甚至可測量與零件之間的距離，操作員能夠測量處于不同高度或階梯式幾何位置的零件。測量速度非?？欤蚨试S測試數(shù)量更多的樣品，操作員可花費(fèi)更少的時間來設(shè)置零件。

使用自動對焦的好處

通過簡單的實(shí)驗(yàn)說明使用自動對焦的好處。將六個高度范圍為4.8 - 6.6英寸（1.9 - 2.6 cm）的零件裝入樣品室。操作員創(chuàng)建多點(diǎn)程序來測量每個零件上的一個位置。

由同一位受過培訓(xùn)的操作員以兩種方式進(jìn)行實(shí)驗(yàn)：一種是使用激光對焦（移動分析頭，操作員判定對焦），一種是使用自動對焦（不移動分析頭，操作員不參與對焦）。由于兩種情況下的測量時間相同，因此只考慮設(shè)置程序的時間。實(shí)驗(yàn)結(jié)果見下文。

僅使用激光對焦創(chuàng)建6點(diǎn)程序的時間：44秒

使用自動對焦創(chuàng)建6點(diǎn)程序的時間：17秒

節(jié)省時間：27秒（節(jié)省62%）