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應(yīng)用案例
CASE
偏光顯微鏡通常應(yīng)用于材料科學(xué)和地質(zhì)學(xué)領(lǐng)域，根據(jù)礦物的折射特性和顏色來識(shí)別礦物。在生物學(xué)中，偏光顯微鏡通常用于晶體等雙折射結(jié)構(gòu)的識(shí)別或成像，或用于植物細(xì)胞壁中纖維素和淀粉粒的成像。
工程師日記 | 測(cè)試數(shù)據(jù)不穩(wěn)定/光室吹掃效率低的解決方法
客戶反饋 數(shù)據(jù)不穩(wěn)定/光室吹掃效率低。 ??01應(yīng)用知識(shí)背景 此故障一般由多種原因引起：信號(hào)強(qiáng)度低，樣品前處理不當(dāng)或其它原因引起。
顯微課堂 | 工業(yè)顯微鏡在面板檢測(cè)行業(yè)的應(yīng)用案例分享
對(duì)于目前主流顯示面板市場(chǎng)而言，常見的顯示技術(shù)包括LCD（液晶顯示）、有機(jī)發(fā)光二極管顯示（OLED）、電泳顯示、以及新興的Micro LED（微型發(fā)光二極管）顯示技術(shù)等；各種顯示技術(shù)均具有獨(dú)特的特點(diǎn)及應(yīng)用領(lǐng)域。
當(dāng)銀河之力遭遇銀河之禍：達(dá)斯·維達(dá)的盔甲之材料可靠性鑒定
01 黑暗之主的盔甲：奇跡與疏忽的故事 我們都知道達(dá)斯·維達(dá)那令人敬畏的形象，這位強(qiáng)大的存在被包裹在一套維持生命的盔甲中，這是在一場(chǎng)悲劇的決斗后，他變得比人類更像機(jī)器。然而，在這項(xiàng)技術(shù)奇跡的表面之下，隱藏著許多挑戰(zhàn)，包括行動(dòng)限制、對(duì)原力閃電的脆弱性，以及曾經(jīng)敏捷的阿納金·天行者因笨拙設(shè)計(jì)而受到的阻礙。
本文介紹了一種配備自動(dòng)化和可重復(fù)的 DIC（微分干涉對(duì)比）成像的 6 英寸晶圓檢測(cè)顯微鏡，無論用戶的技能水平如何。制造集成電路（IC）芯片和半導(dǎo)體組件需要進(jìn)行晶圓檢測(cè)，以驗(yàn)證是否存在影響性能的缺陷。這種檢測(cè)通常使用光學(xué)顯微鏡進(jìn)行質(zhì)量控制、故障分析和研發(fā)。為了有效地可視化晶圓上結(jié)構(gòu)之間的細(xì)微高度差異，可以使用 DIC 。
X-MET8000系列用于快速測(cè)量 質(zhì)子交換膜（PEM）上的Pt和Ir載 量
質(zhì)子交換膜是未來可持續(xù)能源系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)。燃料電池中的質(zhì)子交 換膜能夠高效地將氫氣轉(zhuǎn)化為電能，且無有害氣體排放。質(zhì)子交換膜 燃料電池廣泛用于電解水制氫，質(zhì)子交換膜在氫能產(chǎn)業(yè)中發(fā)揮著至關(guān) 重要的作用。
