顆粒數(shù)量 -> 判定污染的整體程度
顆粒尺寸（長、寬、高） -> 判定單顆粒的破壞性
顆粒材料（反光或非反光顆粒，對應(yīng)為金屬或塑料） -> 判定顆粒負(fù)荷的一般破壞性和單顆粒的破壞性
區(qū)分顆粒和纖維之間 -> 判定單顆粒的破壞性和污染源由于受測產(chǎn)品的不同，上述要素的重要性也不盡相同。因此，Leica Cleanliness Expert 提供了靈活多樣的配置，以及一系列執(zhí)行分析需要遵循的標(biāo)準(zhǔn)，包括本地、國家和國際化標(biāo)準(zhǔn)，例如，ISO 16232、VDA 19和 ISO 4406。

Leica DM4 M 清潔度顯微鏡

適用于材料科學(xué)和質(zhì)量控制領(lǐng)域，能夠提供真實(shí)、可再現(xiàn)的顯微鏡觀察結(jié)果，呈現(xiàn)光學(xué)性能以及高品質(zhì)的圖像。只需輕敲一個(gè)按鈕，即可存儲(chǔ)和恢復(fù)成像條件。利用高品質(zhì)顯微圖像，能夠輕松進(jìn)行具有挑戰(zhàn)性的檢驗(yàn)、測量和分析任務(wù)。

兩種解決方案適用于可執(zhí)行多種任務(wù)

Leica DM4 M 顯微鏡具有兩種標(biāo)準(zhǔn)配置，適用于不同的應(yīng)用領(lǐng)域和成本預(yù)算：手動(dòng)編碼控制的 Leica DM4 M 是一款性價(jià)比很高的解決方案，適用于常規(guī)檢驗(yàn)任務(wù)，比如，質(zhì)控部對新進(jìn)物料進(jìn)行檢驗(yàn)，等等。由于編碼控制功能的設(shè)置參數(shù)與圖像一起存儲(chǔ)，確保了圖像的可再現(xiàn)性，以及檢驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性。

智能化的相對管理系統(tǒng)，確?？稍佻F(xiàn)性

Leica DM4 M能夠?qū)崿F(xiàn)在不同觀察方法之間的輕松切換：選擇一個(gè)特定的觀察模式，不到一秒鐘，所有元件均將轉(zhuǎn)移至光路中。此外，顯微鏡將自動(dòng)修改照明設(shè)置、亮度以及光闌位置，使之適用于該觀察模式。

LED 照明系統(tǒng)確保適用于所有觀察方法

不管是在明場、暗場、DIC 還是偏光模式下運(yùn)行，均可以在徠卡 LED照明系統(tǒng)的白光下看到樣本。LED不會(huì)產(chǎn)生熱量，以此保護(hù)樣本。色溫穩(wěn)定，確保得出真實(shí)的可再現(xiàn)分析結(jié)果。此外，它還具有耗電量低的優(yōu)勢，LED的使用壽命長達(dá)20000 個(gè)小時(shí)，確保無需更換燈。

*僅提供概要性產(chǎn)品信息，這些信息不得構(gòu)成任何訂單或合同的一部分或視為與相關(guān)產(chǎn)品或服務(wù)有關(guān)的陳述，本公司保留更改任何產(chǎn)品信息或服務(wù)的規(guī)格、設(shè)計(jì)或供應(yīng)條款的權(quán)利

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